AL-Y3500xrdf型儀器是一種結(jié)合X射線衍射技術(shù)（XRD）和X射線光譜技術(shù)（EDS）的高端分析儀器，主要用于材料的元素成分分析和結(jié)構(gòu)表征。通過(guò)一次測(cè)量 ，可同步獲取材料的元素組成、晶體結(jié)構(gòu) 、物相組成 、晶粒尺寸等關(guān)鍵信息，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué) 、地質(zhì)學(xué)、物理學(xué) 、化學(xué) 、生物學(xué) 、半導(dǎo)體、催化劑表征 、金屬都城分析、納米技術(shù)等領(lǐng)域 。
●高效集成 ：一次測(cè)量可同時(shí)獲得衍射與光譜數(shù)據(jù)，避免傳統(tǒng)分步測(cè)量的耗時(shí)與誤差。
●高靈敏度與精度 ：采用先進(jìn)探測(cè)器與算法 ，檢測(cè)限低至ppm級(jí)，結(jié)構(gòu)解析精度達(dá)原子級(jí)別 。
●多功能拓展 ：各種功能附件滿足不同測(cè)試目的需要支持多種樣品形態(tài)（粉末、塊狀 、薄膜等），適配高溫 、低溫 、高壓等特殊環(huán)境測(cè)試高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng) ，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測(cè)量精度 。
●硬件集成 ：共享X射線源 、樣品臺(tái)及控制系統(tǒng)，保證兩種技術(shù)的光路同步與信號(hào)匹配 。
●數(shù)據(jù)融合：通過(guò)專用軟件對(duì)衍射圖譜與光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行聯(lián)合解析 ，結(jié)合X射線衍射（XRD）的晶體結(jié)構(gòu)信息與X射線熒光光譜（XRF）的元素組成數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)物質(zhì)的全維度表征 。
●未知樣品中一種和多種物相鑒定，可以同時(shí)分析40種元素 。
●采用多準(zhǔn)直器 、索拉狹縫系統(tǒng) ，具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)專利技術(shù) 。
●晶體結(jié)構(gòu)解析(Rietveld結(jié)構(gòu)分析)、軟件內(nèi)包含基本參數(shù)發(fā) ，經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法等 。
●非常規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化(高溫、低溫條件下) ，可以搭載多種樣品臺(tái) 。
●薄膜樣品分析，包括薄膜物相 、多層膜厚度 、表面粗糙度 ，電荷密度 。
●微區(qū)樣品的分析 、金屬材料織構(gòu)、應(yīng)力分析。
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